導(dǎo)致晶振托盤損壞的因素
什么因素會損壞晶振托盤,原因如下:
1、在生產(chǎn)過程中有摔落現(xiàn)象,因為晶片相對較薄,外界的過度沖擊力會造成損傷,需要輕拿輕放。
2、產(chǎn)品焊接與電路板連接時,焊接溫度過高,可能導(dǎo)致產(chǎn)品不良。
3、焊接過程中產(chǎn)生假焊,即假焊,使產(chǎn)品不帶電。
4、產(chǎn)品焊接后,
晶振托盤焊料與線路連接,產(chǎn)生短路現(xiàn)象。
5、在檢漏過程中,即在酒精壓力環(huán)境下,產(chǎn)品容易接觸到殼體,即晶片和殼體在發(fā)生振動時容易接觸,從而晶體容易發(fā)生時振時不振或停。
6、在晶振托盤密封時,產(chǎn)品中需要真空充氮,如果晶體密封不好,在酒精壓力下,它的特點是泄漏,稱為雙重泄漏,也會導(dǎo)致關(guān)閉。